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用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀 庫侖法的成本效益高，可準確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性，因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質量控制中，以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

微電腦多功能電解式測厚儀菲希爾 Fischer菲希爾Couloscope CMS測厚儀（ 庫侖測量系統(tǒng)）使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一一個大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。